X射線電鍍層檢測儀_光譜儀:Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
工作原理介紹用X射線照射試樣時,試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。 X射線熒光光譜儀特點X射線熒光光譜儀的特征是波長非常短,頻率很高,其波長約為(20~0.06)×10-8厘米之間。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠內(nèi)層的電子躍遷時發(fā)出來的,而光學(xué)光譜則是外層的電子躍遷時發(fā)射出來的。X射線在電場磁場中不偏轉(zhuǎn)。這說明X射線是不帶電的粒子流,因此能產(chǎn)生干涉、衍射現(xiàn)象。 X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標(biāo)識譜兩部分組成 ,標(biāo)識譜重疊在連續(xù)譜背景上,連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射,其短波極限λ 0 由加速電壓V決定:λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù),e為電子電量,c為真空中的光速。標(biāo)識譜是由一系列線狀譜組成,它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生,每種元素各有一套特定的標(biāo)識譜,反映了原子殼層結(jié)構(gòu) 。同步輻射源可產(chǎn)生高強度的連續(xù)譜X射線,現(xiàn)已成為重要的X射線源。 X射線熒光光譜儀的X射線具有很高的穿透本領(lǐng),能透過許多對可見光不透明的物質(zhì),如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發(fā)生可見的熒光,使照相底片感光以及空氣電離等效應(yīng),波長越短的X射線能量越大,叫做硬X射線,波長長的X射線能量較低,稱為軟X射線。當(dāng)在真空中,高速運動的電子轟擊金屬靶時,靶就放出X射線,這就是X射線管的結(jié)構(gòu)原理。
無損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測儀,天瑞鍍層測厚儀
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。
X射線電鍍層檢測儀_光譜儀儀器介紹
Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
X射線電鍍層檢測儀_光譜儀性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計算機及噴墨打印機
無損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測儀,天瑞鍍層測厚儀